GR5xxx平台BLE Static Address是根据Efuse中Chip UUID及校验信息生成，但客户端反馈存在一定概率不同Chip生成BLE Static Address重复，因此优化了BLE Static Address生成算法

此优化也带来了一个客户端问题：

- SDK版本升级导致同一设备前后生成的BLE Static Address不一致，若是使用BLE Static Address，升级之前有进行配对绑定，升级后无法与已配对的设备正常交互。

Ø 变更版本细节：已开始应用优化算法版本：

- GR5525 SDK V1.0.2

- GR533x SDK V1.0.6

- GR5526 SDK V1.0.3

Ø 因此，若有客户使用

- GR551x SDK V2.0.0 and earlier versions,

- GR5525 SDK V1.0.1 and earlier versions,

- GR533x SDK V1.0.5 and earlier versions,

- GR5526 SDK V1.0.2 and earlier versions,

升级到最新SDK时，若要保持BLE Static Address一致，需使用以下patch。

Ø 新项目使用最新SDK版本，无需使用以下patch

修复办法可在升级新版SDK后，在ble stack初始化完成后应用以下patch，使用方法见下图

// In order to maintain consistency in the static addresses generated by

// - GR551x SDK V2.0.0 and earlier versions,

// - GR5525 SDK V1.0.1 and earlier versions,

// - GR533x SDK V1.0.5 and earlier versions,

// - GR5526 SDK V1.0.2 and earlier versions,

// this patch function needs be applied

static void ble_gap_static_addr_replace(void)

{

sdk_err_t error_code;

uint8_t chip_uuid[SYS_CHIP_UID_LEN];

uint16_t trim_sum = 0;

ble_gap_bdaddr_t ble_gap_addr;

if ((sys_device_uid_get(chip_uuid) == SDK_SUCCESS) && (sys_trim_sum_get(&trim_sum) == SDK_SUCCESS))

{

if (0x41 == chip_uuid[0])

{

ble_gap_addr.gap_addr.addr[2] = chip_uuid[8];

ble_gap_addr.gap_addr.addr[3] = chip_uuid[9];

ble_gap_addr.gap_addr.addr[4] = chip_uuid[10];

ble_gap_addr.gap_addr.addr[5] = chip_uuid[11] | 0xC0;

} else

{

ble_gap_addr.gap_addr.addr[2] = chip_uuid[10];

ble_gap_addr.gap_addr.addr[3] = chip_uuid[13];

ble_gap_addr.gap_addr.addr[4] = chip_uuid[14];

ble_gap_addr.gap_addr.addr[5] = chip_uuid[15] | 0xC0;

}

ble_gap_addr.gap_addr.addr[1] = (uint8_t)trim_sum;

ble_gap_addr.gap_addr.addr[0] = (uint8_t)(trim_sum >> 8);

ble_gap_addr.addr_type = 1;

}

error_code = ble_gap_addr_set(&ble_gap_addr);

APP_ERROR_CHECK(error_code);

}