GR551X的32M和32.768K晶振采用内置匹配电容方案，必须对32M晶振进行校准，才能开展BLE的RF性能测试评估，量产过程中是在SMT阶段采用原厂提供的量产工具进行晶体校准。

1. 晶体校准值范围：0~511，量产测试时把校准值存储在efuse中的0x12A起始位置，占用2Byte空间；

2. 软件读取efuse晶体校准参数参考代码如下：

A：实现efuse读取函数dfu_efuse_read，读取数据要求Word对齐：

#include "gr55xx_hal_efuse.h"

bool dfu_efuse_read(uint8_t word_offset, uint32_t *data, uint8_tsize_word)

{

efuse_handle_t EFUSEHandle={0};

hal_status_t status = HAL_OK;

memset(&EFUSEHandle,0,sizeof(efuse_handle_t));

EFUSEHandle.p_instance = EFUSE;

EFUSEHandle.init.info_mode =DISABLE;

hal_efuse_deinit(&EFUSEHandle);

__HAL_EFUSE_DISABLE_MAIN_BACKUP(&EFUSEHandle);

hal_efuse_init(&EFUSEHandle);

status = hal_efuse_read(&EFUSEHandle,word_offset, data, size_word);

if(HAL_OK ==status)

return true;

else

return false;

}

B：读取示例：
uint32_t buff[80] = {0};
dfu_efuse_read(0,buff,75);
uint32_t xo_offset = buff[74];

3. 通过过判断xo_offset是否为0，判断是否写入晶振校准值；

PS：如果xo_offset为0，可能无法判读是没有写入还是写入值为0，按照经验值，该校准值一般不为0。