false

false

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    GR551X的32M和32.768K晶振采用内置匹配电容方案,必须对32M晶振进行校准,才能开展BLE的RF性能测试评估,量产过程中是在SMT阶段采用原厂提供的量产工具进行晶体校准。


1. 晶体校准值范围:0~511,量产测试时把校准值存储在efuse中的0x12A起始位置,占用2Byte空间;


2. 软件读取efuse晶体校准参数参考代码如下:

A:实现efuse读取函数 dfu_efuse_read,读取数据要求Word对齐:

#include "gr55xx_hal_efuse.h"  

bool dfu_efuse_read(uint8_t word_offset, uint32_t *data, uint8_t size_word) 

 { 

     efuse_handle_t EFUSEHandle={0};

     hal_status_t status = HAL_OK; 


     memset(&EFUSEHandle,0,sizeof(efuse_handle_t)); 

     EFUSEHandle.p_instance = EFUSE; 

     EFUSEHandle.init.info_mode = DISABLE; 

     hal_efuse_deinit(&EFUSEHandle); 

     __HAL_EFUSE_DISABLE_MAIN_BACKUP(&EFUSEHandle); 

     hal_efuse_init(&EFUSEHandle); 

     status = hal_efuse_read(&EFUSEHandle, word_offset, data, size_word); 

     if(HAL_OK ==status)    

        return true; 

     else 

         return false; 

}  

B:读取示例:

uint32_t buff[80] = {0};        

dfu_efuse_read(0,buff,75);        

uint32_t xo_offset = buff[74];    

3.  过判断xo_offset是否为0,判断是否写入晶振校准值;  

PS:如果xo_offset为0,可能无法判读是没有写入还是写入值为0,按照经验值,该校准值一般不为0。

Angelo

2021-11-17 15:37:34

请问一下那怎么才能把校准值写入那个efuse的地址呢?是专门的量产工具?谢谢!

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2021-11-17 15:47:29

1. 使用我司提供的PLT/PLT Lite量产测试工具进行校准,测试通过后会自动把校准值写入efuse中;

    相关工具板如下图所示,可以联系我司代理采购。


2. 可以通过我们提供的调试工具,把校准值写入efuse中;—可以通过邮箱提供,请提供接收邮箱;

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