一．DTM测试上位机工具官方获取路径：DTM上位机工具

二．DTM测试固件修改，打开SDK目录下projects\ble\dtm\direct_test_mode工程，在custom_config.h与board_SK.h中确认如下配置项与需要测试的板子硬件是否对齐，不一致需要进行修改后再编译：

1． 芯片型号（例如GR533x）：

2． 1.1V内核供电方式（仅GR533x支持，其它芯片忽略）：

3． 低速32K时钟源选择, 有外部32K晶振配0，没有配需要配1：

4. PA配置（仅GR5332且发射功率要求大于5db时需要修改默认配置）：

5. 修改DTM测试串口通信PIN（board_SK.h）,确认默认通信PIN与测试板是否对齐，如果不对齐需要根据实际PIN做对应修改:

三．DTM测试固件编译完需要用GProgrammer下载到测试板芯片中；

1. GProgrammer工具下载路径： GProgrammer工具

2. GProgrammer工具使用文档下载路径： GProgrammer工具文档

注意：这里的固件下载口不管是用串口还是SWD都是接GPIO0、GPIO1，与上面编译的DTM测试固件配的串口没有关系；

四．将PC的USB转串口连接至测试板并供上电（串口接DTM固件中配置的PIN），打开DTM上位机工具，如下图选择芯片与对应的串口再点OpenUart按钮；

1. 如果左下角提示No ack !, 说明PC工具与测试板通信不成功;

2. 如下点完OpenUart左下角提示如下，说明通信成功；

五．确认板子晶体是否有做过校准（测试前需要先进行校准），连接成功后点Private -> Read(xo_register), 如果读到的值为0x0100则此板子没有做过校准；

校准方法: 一是通过生产工具进行校准，如PLT或PLT-Lite; 也可以在如下界面手动校准，可以先调整xo_register的值点Write, 之后在综测仪或频谱仪查看

单载波的输出频率，频率调至最佳后再将此值复制到右边的xo_efuse点Write；

PS：xo_efuse只能写一次，写之前建议先在xo_register确认好;

六．DTM测试详细文档参考：“Bluetooth_Low_Energy_DTM测试软件使用说明_V0.x.pdf”或CMW500 半自动DTM测试指南.pdf

文档获取链接：DTM测试参考文档

七． 常见问题

1．PC工具与测试板串口通信不成功（提示No ack !）：

a. 32K晶振配置不对固件没有跑起来；

b.串口线连接错误，可以交换TX与RX验证；

c.串口通信电平不匹配，例如测试板串口是3.3V，USB转串口小板是1.8V，可以偿试修改串口板的电平跳冒进行验证；

d.测试板供电异常，确认测试板电源及地线连接是否有问题；

e.串口连接的PIN与软件配置的PIN不是同一个或者软件配置错误，例如PINMUX、UART_ID没有修改正确；

2． 单载波或调制波无输出：

a.当前工具不支持直接在Public(调制波)与Private(单载波)进行切换，如需要切换建议测试板重新上电再连接下发命令；

3． 发射功率或接收灵敏度不达标：

a.确认RF匹配电路是否是GOODIX推荐的参考电路及参数，如果不是建议先换回参考匹配电路或参数确认是否是修改导致；

b.测量DCDC1.1V及VBAT_RF纹波是否在要求范围内（规格可参考Datasheet），超过Datasheet范围对发射功率和灵敏度都会存在影响；

c.检查DCDC电路9.1nH电感是否有贴，此电感作用是滤高频，不贴直接短路会对灵敏度有影响；

d.检查PCB是否有按硬件设计指南要求布局和走线，电源部分地线回流阻抗尽量小，例如10uF主滤波电容的地、芯片电源地、DCDC2.2uF的地三

个连接尽量短铜皮尽量宽；RF匹配电路地线到芯片E-PAD阻抗尽量小；

e.检查RF同轴线是否有问题，可以更换新的进行验证；还有同轴线地的焊接位置要在RF匹配电路的地附近，地线焊接位置不合理也会影响测试结果；

4．边带杂散测试不过：

a.如下Station在边带杂散测试时需要配置为High；